Форма 4. СВЕДЕНИЯ О КВАЛИФИКАЦИИ УЧАСТНИКА КОНКУРСА
Опыт выполнения работ коллективом исследователей и достигнутые результаты в области тематики конкурса, подтвержденные данными за последние 3 года
-
№
п/п
|
Наименование работ
по тематике конкурса и сроки их выполнения
|
Стоимость
(млн. руб.)
и источник финансирования
|
Публикации, монографии
|
Защищенные диссертации
|
Внедрение результатов работ в образовательный процесс
|
Результаты интеллектуальной деятельности
|
1
|
2
|
3
|
4
|
5
|
6
|
7
|
1
|
Разработка полупроводниковых детекторов
(1990-1994 гг.-Разработано и изготовлено 18 тыс. падовых детекторов для установки ZEUS;
1994-1998 гг. -800 шт. микростриповых детекторов трековая система D0;
1996-1997 гг.-1200 шт. детекторов для баллонного эксперимента Аттик;
2000-2003 гг.- 1000 детекторов для прототипа электромагнитного калориметра ILC;
2008-по н.с.-разработка радиационно-стойких детекторов для проектов FAIR;
2006-2009 гг.- разработка и изготовление 2000 падовых и стриповых детекторов для космических экспериментов НУКЛОН);
|
Гранты - 5,0 млн.
ВП - 3,0 млн.
ВБС- 15,0 млн.
|
52
|
К=2
|
Использование в практических и лабораторных занятиях ядерного отделения физического факультета МГУ.
Лекции на ядерном отделении физического факультета МГУ.
|
|
2
|
Разработка интегральных микросхем
(1996-1997 гг.- разработка интегральной микросхемы CR-1 для эксперимента Аттик;
2006- 2008 гг. разработка 4х канального прототипа ИМС с большим динамическим диапазоном для применения в физике космических лучей;
2007-2009 гг.-разработка 32 –канальной ИМС для эксперимента НУКЛОН.)
|
Гранты - 2,0 млн.
ВП - 2,3 млн.
ВБС- 0,4 млн.
|
12
|
К=2
|
Чтение лекций, проведение
практических и лабораторных занятий МИФИ по тематике проектирования интегральных микросхем,
Модернизация
имеющихся лекционных курсов.
Введен курс лабораторных работ по проектированию интегральных микросхем с использованием программы обеспечения CADENCE,MENTOR GRAPHICS.
|
|
Профессиональная репутация и квалификация коллектива исполнителей в области тематики конкурса, подтвержденные данными за последние 3 года
Характеристика кадров высшей квалификации, которых планируется задействовать при выполнении научно-исследовательской работы:
№
п/п
|
ФИО
|
Должность,
ученая степень,
ученое звание
|
Возраст на дату подачи заявки (лет)
|
Публикации и монографии по тематике НИР
|
Национальные и международные премии и награды в области науки, техники и образования
|
Участие в образовательном процессе по тематике НИР
|
1
|
2
|
3
|
4
|
5
|
6
|
7
|
Участники НИИЯФ МГУ
|
1
|
Воронин
Александр Геннадиевич
|
Старший. научный сотрудник.,
к.ф.-м.н.
|
56
|
Общее количество – 31
|
|
Экспериментальные методы в физике высоких технологий.
|
2
|
Карманов
Дмитрий Евгеньевич
|
Научный сотрудник , к.ф.-м.н
|
40
|
Общее количество – 310
|
|
Экспериментальные методы в физике высоких технологий.
|
3
|
Королев
Михаил Григорьевич
|
Ведущий электронщик
|
48
|
Общее количество – 4
|
|
|
4
|
Кудряшов
Илья Анатольевич
|
Аспирант
|
24
|
Общее количество – 1
|
|
|
5
|
Курбатов Евгений
|
Студент 5 курса
|
21
|
-
|
|
|
6
|
Лефлат
Александр Карлович
|
Научный сотрудник, к.ф.- м.н.
|
47
|
Общее количество – 357
|
|
Экспериментальные методы в физике высоких технологий.
|
7
|
Меркин
Михаил Моисеевич
|
Зав. Лаб., к.ф.-м .н.
|
50
|
Общее количество--349
|
Ломоносовская премия I степени 2007 года.
|
Экспериментальные методы в физике высоких технологий.
|
8
|
Рогожин
Станислав Вадимович
|
Аспирант физ. Факультета МГУ
|
21
|
Общее количество -3
|
|
|
9
|
Тлисов
Данила Анатольевич
|
Научный сотрудник, к.ф.- м.н.
|
27
|
Общее количество -4
|
|
|
10
|
Дементьев
Дмитрий Владимирович
|
Студент 3 курса
|
20
|
-
|
|
|
Участники МИФИ
|
1
|
Аткин
Эдуард Викторович
|
Доцент, к.т.н.
|
46
|
Общее количество – более 100, из них за последние 3 года: 3 публ. в зарубежных изданиях
|
|
1 курс лекций и лабораторных работ: «Теоретические основы специальности Электроника и автоматика физических установок»
|
2
|
Волков
Юрий Алексеевич
|
Профессор, д.т.н., профессор
|
76
|
Общее количество – более 200, из них за последние 3 года: 1 публ. в зарубежных изданиях
|
Почетный работник высшего профессионального образования РФ
|
2 курса лекций и практических занятий: «Основы электроники» для вечернего факультета и «Элементы аналоговых устройств»
|
3
|
Кондратенко
Сергей Владимирович
|
Доцент, к.т.н.,
|
55
|
Общее количество – более 100, из них за последние 3 года: 1 публ. в зарубежных изданиях
|
|
4 курса лекций и практических занятий: «Информационно-измерительные системы», «Физика полупроводниковых приборов», «Цифровые устройства и системы», «Языки программирования высокого уровня и операционные системы микроэвм»
|
4
|
Силаев
Алексей Сергеевич
|
Ведущий инженер
|
29
|
Общее количество – 12, из них за последние 3 года: 1 публ. в зарубежных
изданиях
|
|
|
5
|
Клюев Александр Дмитриевич
|
Аспирант 3-го года
|
25
|
Общее количество – 14, из них за последние 3 года:
2 публ. в зарубежных изданиях
|
|
|
Профессиональная репутация и квалификация приглашаемого руководителя коллектива исследователей в области тематики конкурса, подтвержденные данными за последние 3 года
Должность приглашаемого руководителя коллектива исследователей, наличие ученой степени и ученого звания.
Савельев Валерий Иванович, профессор, доктор физико-математических наук.
Опыт работы в зарубежных университетах, в том числе в компаниях высокотехнологичного сектора экономики.
Университеты:
Westfalishe Wilhelms-Universitat, Munster, Germany, приглашенный профессор, 2003- 2004,
Paris University, Paris, France, visitor professor, 2005, 2006, 2008, 2009
University of Maryland, College Park, MA, USA, профессор, 2007- н.в,
Высокотехнологические компании:
SENSL, Cork, Ireland, консультант, 2005-2007
Quantum Molecular Pharmaceuticals INC, Toronto Canada, 2006-2007,
Imaging PET Technologies, INC, Ottawa, Canada, Chef Scientific Officer (ведущий научный сотрудник), 2007-н.в.
Positron, INC, TX, USA (медицинские системы), Consultant (консультант), 2007- н.в
KOTURA Co, USA, CA (опто - электроника). Ведущий специалист, член научно-технического совета 2007- н.в.
Основными результатами работы является разработка технологии уникальных полупроводниковых структур для регистрации сверхмалых потоков оптического излучения, патенты США.
Сведения о кандидатах и докторах наук, подготовленных под руководством приглашаемого руководителя коллектива исследователей:
1.С. Галуев, МИФИ, Россия, к.т.н.,
2. С.Егорычев, МИФИ, Россия, к.ф.-м.н.,
3. S.Aplin, Portthmooth University, GB, PhD,
4. N.Daschenzo, Hamburg University, Германия, PhD,
5. А.Галкин, Национальный исследовательский ядерный университет, Россия, к.-ф.м.н.
Наличие опыта взаимодействия с научным коллективом приглашающей организации (совместные исследования, публикации, доклады на конференциях).
Участие в совместных научных коллаборациях:
Международный линейный коллайдер, http://www.linearcollider.org/cms/
Кремниевые трековые системы для линейного коллайдера, http://lpnhe-lc.in2p3.fr/
GSI CBM эксперимент,
Индексы цитирования.
Учебники и монографии.
Сведения об опыте работы и достигнутых результатах:
-
№
п/п
|
Наименование работ
|
Публикации в журналах с импакт-фактором
|
Патенты1
|
1
|
2
|
3
|
4
|
1
|
Разработка кремниевых квантовых структур
|
9
|
2
|
Материально-техническая база для выполнения НИР
В настоящее время исполнители НОЦ имеют достаточное количество вычислительной (10 рабочих станций Sun и более 10 современных Linux ПК класса PIV) и измерительной техники, полученное в рамках нескольких успешно завершенных проектов МНТЦ и ФЦП. Для оформления текущей технической и отчётной документации имеется парк современной офисной техники (Windows ПК, принтеры, копиры, плоттеры, сканеры).
Коллектив НОЦ в течение последних лет использует лицензионные программные средства ведущих мировых компаний Cadence Design Systems и Mentor Graphics, Lab View, EAGLE.
Более пяти лет исполнители НОЦ являются членами организации Europractice (№ А47530, А47810), которая обеспечивает доступ к изготовлению микросхем на зарубежных технологических базах по самым передовым проектным нормам. В частности, по итоговым результатам Europractice за 2008-2009 гг. МИФИ является лидирующей в России организацией по количеству выполненных заказов по изготовлению интегральных микросхем.
Ряд опытных микросхем изготавливаются и уже изготовлены на зарубежных технологических базах компаний AMS (Австрия), UMC (Тайвань), AMIS (Бельгия), которые предоставили необходимые для проектирования технологические библиотеки на условиях конфиденциальности (Non-disclosure agreements).
Наличие Измерительной техники:
- источники питания- 10 шт.
- цифровые осциллографы- 3 шт.
- генераторы импульсов - 5 шт.
- анализатор спектра - 2 шт.
- зондовая станция для измерения параметров ИС - 1 шт.
- LCR- метр- 3 шт.
- пикоамперметр- 2 шт.
- многоканальные аналого-цифровые преобразователи- 2 шт.
- универсальные программируемые платы на основе ПЛИС- 1шт.
- универсальный автоматизированный стенд для проверки характеристик микросхем-1 шт.
И.о. Директора
НИИЯФ МГУ ___________________________ (Саврин В.И.)
М.П.
|
