Программа промежуточной аттестации по дисциплине: Теоретические основы современных методов микроскопии Специальность




Скачать 86.12 Kb.
НазваниеПрограмма промежуточной аттестации по дисциплине: Теоретические основы современных методов микроскопии Специальность
Дата04.01.2013
Размер86.12 Kb.
ТипПрограмма

Министерство образования и науки Российской Федерации

Белгородский государственный университет




ПРОГРАММА

промежуточной аттестации по дисциплине:


Теоретические основы современных методов микроскопии




Специальность 020101.65.03 – Химия со специализацией Химия наноструктурных материалов


Белгород – 2008

Министерство образования и науки Российской Федерации

Белгородский государственный университет


«УТВЕРЖДАЮ»

Декан факультета_______________

«__»____________200_ г.


Программа промежуточной аттестации по дисциплине

Теоретические основы современных методов микроскопии

Специальность 020101.65.03 – Химия со специализацией Химия наноструктурных материалов




Программа составлена в соответствии с Государственным образовательным стандартом высшего профессионального образования по специальности 020101.65.03 – Химия со специализацией химия наноструктурных материалов


Учебная программа разработана: к.б.н., доц. Надеждин С.В., д.б.н., проф. Федорова М.З., ассист. Буржинская Т.Г.


Программа рассмотрена и утверждена на заседании кафедры кафедры общей, неорганической и аналитической химии

от «______»____________________200___г.


Протокол № ____ Зав. кафедрой_________________


Программа пересматривалась на заседаниях кафедры общей, неорганической и аналитической химии

________________________________________________


Содержание программы

промежуточной аттестации студентов:





№№

Название разделов

Страницы

1.

Пояснительная записка

4

2.

Содержание разделов дисциплины

4

3.

Вопросы к зачету

5

4.

Основная литература

6

5.

Дополнительная литература

6

6.

Тематика рефератов (докладов, сообщений) и (или) курсовых работ

7

7.

Критерии оценки качества знаний студентов

8




  1. пояснительная записка


Одним из ведущих направлений современной химии является изучение состава, структурных свойств соединений и различных химических композиций.

В последние годы широкое распространение получили методы электронной, зондовой сканирующей и конфокальной микроскопии, имеющие программное обеспечение управления процессами визуализации и обработки полученных результатов. В предлагаемое пособие включены материалы, закрепляющие знания студентов по неорганической химии и кристаллохимии, а также формирующие практические навыки работы с аппаратно-программными комплексами. Курс «Теоретические основы современных методов микроскопии» нацелен на подготовку высококвалифицированных специалистов в области наукоемких технологий для учреждений химического профиля.


    1. СОДЕРЖАНИЕ РАЗДЕЛОВ ДИСЦИПЛИНЫ


Расдел 1. Оптическая микроскопия.

Теоретический материал.

Исследование образцов с помощью аппаратно-программных комплексов при помощи оптических микроскопов. Аппаратно-программные комплексы в химии: анализатор изображений «ВидеоТест-Металл»; анализатор изображений ВидеоТесТ - Мастер (Структура); анализатор изображений «ВидеоТест-Размер». Конфокальная лазерная сканирующая микроскопия. Принцип конфокальной лазерной сканирующей микроскопии. AOTF – акустико-оптический настраиваемый фильтр, AOBS – акусто-оптический светоделитель, SP-Detector – датчик спектрального фотометра.

Практический материал.

Анализ изображения при помощи аппаратно - программного комплекса «ВидеоТест-Размер». Изучение коллагеновых фибрилл при помощи конфокального лазерного сканирующего микроскопа.

Расдел 2. Электронная микроскопия.


Теоретический материал.

Исследования особенностей образцов при помощи растровой электронной микроскопии. Методы подготовки образцов для РЭМ: высушивание переходом критической точки; замораживание-высушивание (лиофилизация). Исследование элементного состава образцов при помощи рентгеновского микроанализа на электронных микроскопах. Физические основы процесса возбуждения характеристического рентгеновского излучения в объекте.

Практический материал.

Изучение микроструктур глинистых пород при помощи растрового электронного микроскопа. Определение весового и молярного содержания элементов в слюде при помощи рентгеновского микроанализа на растровом электронном микроскопе.


Расдел 3. Сканирующая зондовая микроскопия.

Теоретический материал.

Исследование образцов при помощи атомно-силовой микроскопии. Влияние свойств зонда. Влияние адсорбционного слоя на поверхности образца на взаимодействие с СЗМ зондом.


Практический материал.

Изучение волокон хризотил асбеста при помощи атомно-силового микроскопа. Редактирование изображения.

Приложение. Краткая характеристика объектов исследования лабораторного практикума.

Кристаллы - Магний-аммоний фосфат. Коллагены. Глинистые породы. Слюды. Хризотил-асбест.





    1. ВОПРОСЫ К ЗАЧЕТУ




  1. Правила работы и уход за оптическими микроскопами.

  2. Настройка светового поля.

  3. Система ввода. Работа с фото- и видеокамерами.

  4. Программы анализа изображений фирмы «ВидеоТест».

  5. Особенности работы с конфокальным лазерным сканирующим микроскопом.

  6. Возможности и область применения в химии растровых электронных микроскопов.

  7. Методы фиксации и подготовки образцов для сканирующей электронной микроскопии.

  8. Рентгеновский микроанализ: сущность метода и возможность применения в химии.

  9. Техника безопасности и подготовка образцов для рентгеновского микроанализа.

  10. Использование сканирующей зондовой микроскопии в химических исследованиях.

  11. Методы исследования в оптической микроскопии.

  12. Устройство и принцип работы конфокального лазерного сканирующего микроскопа.

  13. Модификации и модели конфокальных лазерных сканирующих микроскопов.

  14. Устройство и принцип работы просвечивающего электронного микроскопа.

  15. Устройство и принцип работы растрового сканирующего электронного микроскопа.

  16. Модификации, модели просвечивающих и растровых сканирующих электронных микроскопов.

  17. Оборудование и установки для подготовки образцов к просвечивающей электронной микроскопии.

  18. Физико-технические основы спектрального рентгеновского микроанализа.

  19. Устройство и принцип работы атомно-силового микроскопа.

  20. Методы АСМ.

  21. Основные этапы подготовки образцов к атомно-силовой микроскопии.

  22. Факторы и артефакты в сканирующей зондовой микроскопии, качество – изображения.



4. ОСНОВНАЯ ЛИТЕРАТУРА


  1. Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., лифшин Э. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. М.: Мир, 1984. Т.1. – 303 с.

  2. Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., лифшин Э. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. М.: Мир, 1984. Т.2. – 348 с.

  3. Егоров-Тисменко Ю.К. Кристаллография и кристаллохимия. –М.: Университет. Книжный дом, 2005- 325 с.

  4. Егорова О.В. Техническая микроскопия. М.: Техносфера, 2007. – 360 с.

  5. Карпов Ю.А. Методы пробоотбора и пробоподготовки. М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2003.- 243 с.

  6. Кларк Э. Р., Эберхардт К.Н. Микроскопические методы исследования материалов. М.: Техносфера, 2007. – 376 с.

  7. Лежнев Э.И., Попова И.И., Кузьмина С.В., Слащев С.М. Конфокальная лазерная сканирующая микроскопия: принципы, устройство, применение (часть 1) // Научное приборостроение. -2001. – Т. 11. №2. – С. 3-20.

  8. Лежнев Э.И., Попова И.И., Кузьмина С.В., Слащев С.М. Конфокальная лазерная сканирующая микроскопия: принципы, устройство, применение (часть 2) // Научное приборостроение. -2001. – Т. 11. №3. – С. 26-42.

  9. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. Нижний Новгород. 2004. 114 с.

  10. Основы кристаллохимии: Учебное пособие для студентов обучающихся по спец. 011000 "Химия", 032300 "Химия": В 3 ч.. Ч. 1. Кристаллография: структуры и симметрии кристаллов; Авт.-сост.: А.А. Смоликов, М.А. Трубицын; БелГУ. - Белгород: БелГУ, 2003.- 64 с.

  11. Осипов В.И., Соколов В.Н. Румянцева Н.А. Микроструктура глинистых пород. М.: «Недра», 1989.-211с.

  12. Основы аналитической химии. Практическое руководство: Учебное пособие для вузов/ В.И. Фадеева, Т.Н. Шеховцова, В.М. Иванов и др.; Под. ред. Ю.А. Золотова.-М.: Высш. шк., 2001.-463с.

  13. Руководство пользователя NanoEducator. ЗАО «НТ-МДТ». М., 2006. 81 с.

  14. Чупроунов Е.В., Хохлов А.Ф., Фадеев Н.А. Кристаллография.- М.: Издательство физико-химической литературы, 2000.-142 с.


5. ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ ЛИТЕРАТУРА


  1. Белоусова О.Н., Михина В.В. Общий курс петрографии. М.: «Недра»-1972.-344с.

  2. Батаев А.А., Батаев В.А., Тушинский Л.И., Которов С.А., Буторин Д.Е., Суханов Д.А., Батаева З.Б., Смирнов А.И., Плохов А.В. Физические методы контроля материалов: Учебное пособие/Под. ред. А.А. Батаева. – Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2000. – 103с.

  3. Карупу В.Я. Электронная микроскопия. – К.: «Вища школа», 1984. – 208 с.

  4. Родыгин А. И Структурные диаграммы — Томск, 1980. — 76 с.

  5. Сергеева Н Е Введение в электронную микроскопию минералов — М. Изд-во Моск ун-та, 1977. —144 с.

  6. Reed S.J.B. Electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology. University of Cambridge. – 2005. – 189 p.

  7. http://www.edax.com

  8. http://www.zeiss.com

  9. http://www.fei.com

  10. http://www.jeoluk.com

  11. http://www.nanofactory.com

  12. http://www.ntmdt.com

  13. http://www.leica-microsystems.com

  14. http://www.probes.com

  15. http://fluo-microscopy.ru

  16. http://www.nanonewsnet.ru

  17. http://www.pacificnanotech.com


6. ТЕМАТИКА РЕФЕРАТОВ (ДОКЛАДОВ, СООБЩЕНИЙ)


  1. Семейства кристаллических структур: островные, цепочечные, слоистые, каркасные и координационные.

  2. Асбест: за и против.

  3. Микрокристаллоскопические реакции в аналитической химии.

  4. Основные черты строения силикатов.

  5. Зависимость физических свойств силикатов от их строения.

  6. Основные глинистые минералы – слоистые силикаты и алюмосиликаты.

  7. Обзор научных публикаций по изучению микроструктуры химических объектов с помощью специализированного программного обеспечения.

  8. Возможности специализированного программного обеспечения фирмы «ВидеоТест» в изучении кристаллов.

  9. Использование флуоресцентных белков в химических исследованиях.

  10. Исследование трехмерной структуры химических объектов с помощью конфокальной микроскопии.

  11. Возможности сканирующей электронной микроскопии в изучении химических объектов.

  12. Применение рентгеновского микроанализа для оценки химического состава горных пород.

  13. Изучение рельефа и свойств поверхности минералов при помощи атомно-силовых микроскопов.




    1. КРИТЕРИИ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ЗНАНИЙ СТУДЕНТОВ


Оценка «зачтено» выставляется студентов, усвоившему основные понятия, факты и закономерности дисциплины; ориентирующемуся в материале; способному использовать полученные знания для организации и проведения экспериментального исследования на химических объектах молекулярного и атомного уровней; знакомому с монографической литературой и периодическими изданиями по предмету изучения.



Похожие:

Программа промежуточной аттестации по дисциплине: Теоретические основы современных методов микроскопии Специальность iconРабочая программа по дисциплине «теоретические основы современных технологий» для специальности 080111 «Маркетинг» компонента Ф. 02 цикла опд для специалистов
Рабочая программа дисциплины «Теоретические основы современных технологий» компонента Ф. 02 цикла опд составлена в соответствии с...
Программа промежуточной аттестации по дисциплине: Теоретические основы современных методов микроскопии Специальность iconПояснительная записка Настоящее положение определяет основы организации оценки знаний, универсальных учебных действий, формы и порядок промежуточной аттестации
Настоящее положение устанавливает систему оценок, формы, порядок и периодичность промежуточной и итоговой аттестации обучающихся
Программа промежуточной аттестации по дисциплине: Теоретические основы современных методов микроскопии Специальность iconРабочая программа по дисциплине Теоретические основы электротехники
Дисциплина: «Теоретические основы электротехники» относится к циклу профессиональных дисциплин, для ее изучения студент должен обладать...
Программа промежуточной аттестации по дисциплине: Теоретические основы современных методов микроскопии Специальность iconМетодические указания и задания для выполнения контрольной работы по дисциплине Электрооборудование предприятий и гражданских зданий Специальность: 2-36 03 31 «Монтаж и эксплуатация электрооборудования»
«Инженерная графика», «Техническая механика», «Теоретические основы электротехники», «Электротехнические материалы», «Электрические...
Программа промежуточной аттестации по дисциплине: Теоретические основы современных методов микроскопии Специальность iconО проведении промежуточной аттестации
В соответствии с Уставом, локальным актом Положение о промежуточной аттестации и переводе обучающихся, планом работы школы на 2011-2012...
Программа промежуточной аттестации по дисциплине: Теоретические основы современных методов микроскопии Специальность iconО сроках проведения промежуточной аттестации для учащихся 2-7, 8, 10 классов
В соответствии с Уставом школы, положением о промежуточной аттестации, на основании решения педагогического совета от 23. 03. 2012,...
Программа промежуточной аттестации по дисциплине: Теоретические основы современных методов микроскопии Специальность iconПриказ №91/4 от 21. 07. 2011. Положение о порядке проведения промежуточной аттестации в переводных классах
При проведении промежуточной аттестации обучающихся могут быть использованы сле­дующие формы
Программа промежуточной аттестации по дисциплине: Теоретические основы современных методов микроскопии Специальность iconМатериалы, устанавливающие содержание и порядок проведения промежуточной (текущей) и итоговой аттестации по дисциплинам "Экономика" и "Мировая экономика"
Дения промежуточной (текущей) и итоговой аттестации по дисциплинам "Экономика", "Мировая экономика", разработаны с учётом утверждённого...
Программа промежуточной аттестации по дисциплине: Теоретические основы современных методов микроскопии Специальность iconРабочая программа по дисциплине «Основы менеджмента»
В этих условиях остро стоит задача в подготовке руководителей нового типа, а именно, научить будущих специалистов новым методам ведения...
Программа промежуточной аттестации по дисциплине: Теоретические основы современных методов микроскопии Специальность iconПоложение о форме, порядке и периодичности текущей и промежуточной аттестации обучающихся
П. 3, ст. 32 п пп. 16, п пп. 2), "Типовым положением об общеобразовательной школе", Уставом школы и регламентирует содержание и порядок...
Разместите кнопку на своём сайте:
Библиотека


База данных защищена авторским правом ©lib.znate.ru 2014
обратиться к администрации
Библиотека
Главная страница